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半導體設備

光學檢測系統

(LAZIN)
  • 產品型號:LODASTM
  • 刊登日期:2020/3/6
  • 聯絡專員信箱:sw@sellingware.com.tw

列真光學檢測系統為光罩玻璃、矽、碳化矽及相關磊晶基板提供了高可靠、高精度並快速的缺陷檢測。它可有效協助使用者改善其產品品質並提供其產線良率。

Particle on blank

Microcrack on GaAs substrate

Crystal defects on SiC substrate

Scratches on SiC substrate

Crystal defects on GaN epi layer

Crystal defects on GaN epi layer2

Crystal defects on Si epi layer

Crystal defects on Si epi layer2

矽菱企業全球的專業服務

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從 1990 年開始 27 年來,矽菱企業為專業代理半導體光電面板相關材料和設備的供應商。一直秉持著專業服務於半導體產業光電產業面板產業,代理產品均為韓國、日本、美國、德國、新加坡、馬來西亞、中國大陸知名品牌,這 27幾年來的矽菱企業,累積多年經驗,熟悉市場及技術的未來發展,對新設備及材料高度掌握,成為科技大廠信賴的長期合作夥伴。公司總部設立於台灣新竹台元科技園區,並且在台中、高雄、昆山、蘇州、深圳、成都、西安設立辦事處,提供客戶更優質的在地服務,並全力協助提升客戶競爭力為職志。