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半導體設備

IC外觀自動檢測系統

(INTEKPLUS)
  • 產品型號:iPIS-360 / iPIS-380、iPIS –MSP
  • 刊登日期:2015/4/2
  • 聯絡專員信箱:sw@sellingware.com.tw

Intekplus以強大的研發團隊開發出超高性能半導體界高速的IC Package 外觀自動檢查機,iPIS-360/380 適合 QFN/QFP/BGA and uSD各類的package,光學方面: 本機器採用Intekplus自行開發的光學系統,提供各類封裝產品2D/3DPVI的外觀檢測,檢驗功能超強漏測率低。

機構方面: 本機型採用In-Tray的檢測方式,產品的檢測速度大幅提升,不同類別產品更換操作簡易,不需更換任何治具,大大節省人員及材料成本。

Intekplus iPIS-MSP 系列,提供高速自動化 4面檢測的功能,機器架構4組高解析度/多光源的AOI 模組,可應付各種側邊檢測的需求,本機構採用4組光學自動對焦的功能,各類不同產品設定簡易、操作方便。

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