MIT半導體設備

全自動晶圓掃描聲學測試儀-W(晶片)

型號: 請留言洽詢

全自動晶圓掃描聲學測試儀-W(晶片)

產品資訊

產品名稱全自動晶圓掃描聲學測試儀-W(晶片)

代理廠牌MIT

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產品詳細說明

▪ 全自動晶圓掃描聲學測試儀 (SAT)

▪ 多探針頭

▪ 換能器頻率：50~250MHz

▪ 掃描區域：300×300mm

▪ 外形尺寸：1750×2200×2000mm