MIT半導體設備

全自動晶圓掃描聲學測試儀-PAC(高階款)

型號: 請留言洽詢

全自動晶圓掃描聲學測試儀-PAC(高階款)

產品資訊

產品名稱全自動晶圓掃描聲學測試儀-PAC(高階款)

代理廠牌MIT

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產品詳細說明

▪ 全自動 SAT 套裝

▪ 多探頭

▪ 感測器頻率：25~200MHz

▪掃描面積：300X200(mm)

▪ 外形尺寸：3200X2000X2150(mm)