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ESA半导体材料

炙烧测试板

型号: The design for Aehr、Ando、 Jec 、 SSE system

炙烧测试板

产品资讯

产品名称炙烧测试板
代理厂牌ESA
产品型号The design for Aehr、Ando、 Jec 、 SSE system
联络专员sw@sellingware.com.tw
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产品详细说明

適用於 DBI、MBI 和 TDBI 應用的高品質老化測試板

  • 适用于 DBI、MBI 和 TDBI 应用的高质量老化测试板

  • 适用于 HTOL、THB、HAST 和 EM 应用的可靠电路板

  • 交货周期短:样品3周,量产2周

  • 提供 2 至 16 层产品,价格实惠

  • 为客户提供免费申请和咨询服务

  • 具有成熟品质和可靠性的细间距CSP板(间距最大可达0.5mm)。

從設備應用到系統和板級應用的完整交鑰匙解決方案

  • 从设备应用到系统和板级应用的完整交钥匙解决方案

  • 我们始终确保客户对我们的产品完全满意。

  • 我们提供整体解决方案,以满足您不断增长的需求和未来的目标。

  • 我们为所有客户提供优质的售后支持。

  • TDBI/MBI 功能配置以最短測試時間TDBI/MBI 功能配置以最短测试时间

  • 确保所有类型设备和电路板的最大密度

  • 在小间距 CSP 板(间距从 0.8 毫米到 0.5 毫米)方面拥有良好的业绩记录

  • 首次合格,首件样品即符合标准,确保在最短时间内满足客户需求。