MIT半导体设备

全自动晶圆扫描声学测试仪-W(芯片)

型号: 請留言洽詢

全自动晶圆扫描声学测试仪-W(芯片)

产品资讯

产品名称全自动晶圆扫描声学测试仪-W(芯片)

代理厂牌MIT

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产品详细说明

▪ 全自动晶圆扫描声学测试仪 (SAT)

▪ 多探针头

▪ 换能器频率：50~250MHz

▪ 扫描区域：300×300mm

▪ 外形尺寸：1750×2200×2000mm