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MIT半导体设备

全自动晶圆扫描声学测试仪-PAC(高阶款)

型号: 請留言洽詢

全自动晶圆扫描声学测试仪-PAC(高阶款)

产品资讯

产品名称全自动晶圆扫描声学测试仪-PAC(高阶款)
代理厂牌MIT
产品型号請留言洽詢
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产品详细说明

▪ 全自动 SAT 套装

▪ 多探头

▪ 传感器频率:25~200MHz

▪扫描面积:300X200(mm)

▪ 外形尺寸:3200X2000X2150(mm)